基板上の接続端子に装置した半田ポールの接続強度、破断モード解析を行います。各種サイズの半田ポール、共晶・鉛フリー半田ポールいずれにも使用が可能でシェアー、プル測定も可能です。また、プル測定は、加熱法・常温法いずれも可能で鉛フリー対応の測定に有効です。 加熱条件下で半田ポールを基板に融着させる装置で、大気下でもN2雰囲気でも使用可能です。 イオンビームを利用してめっき表面をエッチングし、断面構造を観察可能なサンプルを作成する装置です。半田ポールとめっき面との界面に生成した合金層、ボイド等の観察に使用されます。 電解放出型電子による高解像形状測定が可能です。検出器は2次電子、反射電子の両方を有し、EDX装置も内蔵しています。貴金属めっきのナノレベルの粒径観察、集束イオンビームで加工しためっき断面の元素分析も可能です。 赤外分光器(Avatar370)と赤外顕微鏡(Continuum)とを組み合わせたFT-IR装置で、めっき皮膜上のミクロンレベルの微少な異物の分析が可能です。 めっき液などの溶液中の微量不純物の特定量分析に使用します。試料が高温プラズマ中で原子、イオン化されるので、通常の原子吸光法より感度が高く、真空式のためP.S.B系の分析が可能で、共存元素の影響を受けにくく、2チャンネルを使用した内部標準法により、正確・迅速にppm単位の定量ができます。 析出皮膜の結晶面回析や残留応力測定、粉末サンプルの定性分析を行う装置です。 試料溶液に通電することにより、成分元素イオンが各々の移動速度に応じた速さで泳動し、分離します。この分離が完了した等速泳動状態の電位こう配を測定し、各成分イオンの定性定量分析を行います。金属イオン、無機イオンから高分子有機イオンまで幅広く適用され、主にめっき液中の不純物イオンの分析や、有機および無機添加イオンの定量に使用します。 近接元素の膜圧測定や、定例分析が精度良く行えます。Pd-Ni合金の比率測定も行えます。 めっき表面の数ナノメーターの表面の元素分析を行います。アルゴンスパッター装置を内蔵しており、マイクロメーターレベルの深さ分析も可能で、実装時の加熱工程に伴う下地金属の拡散測定に有効です。 貴金属めっきの試験はドラフト内に、めっき槽、温度調節装置、電流・電圧制御装置、流量計、pHメーターを持ち込んで行います。試験に使用しためっき液は、貴金属のタイプ（シアン金、非シアン金、シアン銀、非シアン銀、パラジウム、ニッケル、銅など）により分別され、回収工場にて処理・回収されます。ドラフトの排ガスはスクラバーにて吸収された後、排水処理装置にて浄化されます。